欢迎来北京东方德菲仪器有限公司!咨询接触角测量仪相关产品信息!
产品分类

Product classification

首页 > 资料下载 > 光学悬滴分析法测量临界胶束浓度

光学悬滴分析法测量临界胶束浓度

点击次数:317 发布时间:2021/10/19
提 供 商: 北京东方德菲仪器有限公司 资料大小:
图片类型: 下载次数: 38
资料类型: PDF 浏览次数: 317
相关产品:
详细介绍: 文件下载    

临界胶束浓度(CMC)是用于测量和表征表面活性剂的重要参数,必须通过实验来确定。 所有测量 CMC 的方法中,基于表面界面张力测量 CMC 的方法是常见的一种。传统上,采 用 DuNoüy 环法或 Wilhelmy 片法来确定表界面张力,但无论是 DuNoüy 环法或 Wilhelmy 片 法都不适合于测量含有表面活性剂的溶液。Wilhelmy 片法遇到的问题是表面活性剂分子会 吸附在 Wilhelmy 板金属(通常是铂金)表面上,这会导致明显的测量误差,甚至可能会影响 溶液中表面活性剂的浓度。DuNoüy 环法原则上仅适用于单组分(即纯净)液体,当涉及表 面活性剂时,通常难以彻底清洁环,此外,也不可能获得特定的动态或平衡状态相对应的表 面张力值。


详情请见文章内容。

Copyright © 2022 版权所有:北京东方德菲仪器有限公司  ICP备案号:京ICP备05028011号-3  管理登陆  技术支持:化工仪器网   总流量:225413  网站地图

在线客服 联系方式

服务热线

010-68920257/75/76/77

扫一扫访问手机站扫一扫访问手机站
访问手机站